展會回顧 丨 ?2023中國（中部）工業博覽會2023.05.18

2023中國（中部）工業博覽會在南昌綠地國際博覽中心圓滿閉幕?；顒拥玫饺珖鞔笊虆f會的大力支持，有50多家各地商協會率團到場參觀、采購與交流。據不完全統計，本次博覽會吸引近18000人次觀展，現場成交及意向訂單...

中翰儀器 <服務提醒>2023.05.16

我司將于2023/5/18至2023/5/23期間進行為期6天的企業內部團建活動。在此期間，為您提供的服務可能會受到些許影響，但我們會盡最大努力保證服務質量和及時性。 如果您在此期間有任何疑問或需要幫助，仍可隨時致電我們的"全國統一客服熱線"，我們會盡快為您備案解答。

引線孤?的檢查和測量2023.05.05

晶粒(die)與引線鍵合是電?封 裝?業所采?的最常?的互連技 術。近年來，新的封裝趨勢趨向于 例如互連數量增加、電路微型化、 裝配的速度加快、每次互連的成本 降低等。 應當注意的是，互連質量影響 最終產品的質量。隨著互連數量的 增加，?產出有缺陷的部件的概率 也增??？紤]到晶粒與引線鍵合典 型地發?在半導體?產?藝的下游 階段，相對于在?產?藝的早期階 段所檢測到的有缺陷產品，由壞的 互連所導致的有缺陷產品的成本會 更?。所以檢測鍵合引線的?度在 后道?藝中尤為重要，該?度?稱 為弧尚(loop height)。同時也要對晶 粒/引線鍵合的?球以及鍵合?藝之 后的晶粒/引線/襯底的完整性進? 檢驗。

無人機與雷達在道路規劃設計的應用2023.05.05

半導體工藝中的硅晶體缺陷檢測2023.05.05

目前的檢測方法可針對硅襯底表面的硅缺陷進行檢測，即通過實驗室的刻蝕方法來了解是否存在硅缺陷，與其在硅襯底表面的分布情況。但是有時晶圓制造工程師還需要了解硅晶體缺陷在硅襯底中的深度縱向分布。而使用傳統的表面的硅缺陷檢測方法難以得到硅襯底中硅晶體的缺陷的分布。

【展會邀請】 2023（南昌）工業博覽會2023.05.05

2023中國（南昌）工業博覽會 2023 年 5 月 11 日—13日 南昌綠地國際博覽中心 北京中翰儀器邀您參展！

【展會回顧】 蘇州·納博會盛況再現！2023.05.05

第十三屆國際納米技術產業博覽會 展會現場回顧

【展會邀請】春暖花開，中翰儀器邀您來福州觀展！2023.05.05

中翰儀器誠邀您共同參與2023中國（福州）工博會，我們在福州海峽國際會議中心5號館N28展位等您！

淺談VCM的測量方法2023.05.05

Nikon VMZS-4540 全?動影像測量儀的測量應用